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Scanning Probe Microscopy

Name: Scanning Probe Microscopy
Brand: In Tech
SKU: 24120415
Price: 119.99 EUR
Availability: InStock
Author: Vijay Nalladega
ISBN: 9789535105763

Physical Property Characterization at Nanoscale

Vijay Nalladega

Sprache

Englisch

Buch Hardcover

Libristo-Code: 24120415

Verlag In Tech, April 2012

Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnol... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 24120415

294 b

119.99 € inkl. MwSt.

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Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Scanning Probe Microscopy

Autor Vijay Nalladega

Sprache

Englisch

Einband Buch - Hardcover

Datum der Veröffentlichung 2012

Anzahl der Seiten 258

EAN 9789535105763

ISBN 9535105760

Libristo-Code 24120415

Verlag In Tech

Gewicht 612

Abmessungen 170 x 244 x 16

Kategorie

Mathematik und Naturwissenschaften > Chemie > Physikalische Chemie > Elektrochemie und Magnetochemie

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