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Robust Design of Microelectronics Assemblies Against Mechanical Shock, Temperature and Moisture

Sprache EnglischEnglisch
Buch Hardcover
Buch Robust Design of Microelectronics Assemblies Against Mechanical Shock, Temperature and Moisture E.H. Wong
Libristo-Code: 05098486
Verlag Elsevier Science & Technology, Mai 2015
The reliability of components is a prime concern to electronics manufacturers and the failure of mic... Vollständige Beschreibung
? points 374 b
152.79 inkl. MwSt.
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The reliability of components is a prime concern to electronics manufacturers and the failure of microelectronic packaging is a major source of component faults. Failure of electronic packaging: Effects of temperature, moisture and mechanical driving forces provides a thorough review of this important field of research. This practical guide discusses theoretical aspects, experimental results, modeling techniques and results. The authors have used their extensive experience to produce detailed chapters covering temperature, moisture and mechanical shock induced failure in addition to adhesive interconnects and viscoelasticity. Useful program files and macros are included.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Robust Design of Microelectronics Assemblies Against Mechanical Shock, Temperature and Moisture
Sprache Englisch
Einband Buch - Hardcover
Datum der Veröffentlichung 2015
Anzahl der Seiten 482
EAN 9781845695286
ISBN 1845695283
Libristo-Code 05098486
Gewicht 830
Abmessungen 152 x 229 x 30
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