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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Sprache EnglischEnglisch
Buch Hardcover
Buch Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light Pierre-Richard Dahoo
Libristo-Code: 13595194
Verlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, August 2016
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors presen...
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This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Autor Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Sprache Englisch
Einband Buch - Hardcover
Datum der Veröffentlichung 2016
Anzahl der Seiten 316
EAN 9781848219366
ISBN 1848219369
Libristo-Code 13595194
Verlag ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Gewicht 618
Abmessungen 167 x 241 x 24

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Materialwissenschaft > Werkstoffprüfung
Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Technologie, allgemein > Nanotechnologie
Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Andere Technologien und verwandte Wissenschaften > Angewandte Optik
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