Status der Bestellung anzeigen

Werden Sie Teil einer Gemeinschaft von Buchliebhabern aus der ganzen Welt und erhalten Sie eine Reihe von Vorteilen. Konto kostenlos anlegen

DPD-Kurier 4.49 € Hermes Kurierdienst 4.99 € DHL-Kurier 3.99 € Hermes-Stelle 4.49 € DPD-Stelle 2.99 € GLS-Kurierdienst 4.49 €

Kontakt

Wie einkaufen

Hilfe

Mein Konto

▸ Leer :-(

Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Processing: Volume 406

Name: Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Processing: Volume 406
Brand: Materials Research Society
SKU: 02060067
Price: 27.89 EUR
Availability: PreOrder
Author: Francis G. Celii
ISBN: 9781558993099

Francis G. Celii

Orest J. Glembocki

Stella W. Pang

Sprache

Englisch

Buch Hardcover

Libristo-Code: 02060067

Verlag Materials Research Society, März 1996

The fabrication of Si- and compound semiconductor-based devices involves a number of steps ranging f... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 02060067

68 b

Demnächst

27.89 € inkl. MwSt.

Erwarteter Nachdruck

Termin unbekannt

Bis zu 30 Tage Rückgaberecht

Kunden kauften auch

Universidad y diversidad : actas de jornadas

Broschur

14.99 €

Facettes Bibliothèque CE2 - L'arbre qui chante - Recueil Bernard Clavel

Buch

9.69 €

Revista de Investigación INVESTIGA2: Psicología y Pedagogía Tutor Lab Co

Broschur

14.49 €

Prieres Exaucees T. Capote

Broschur

12.79 €

Geometria Afin y Euclidea Nieves Alamo

Broschur

7.69 €

Geprufter Meister fur Rohr-, Kanal- und Industrieservice - Formelsammlung Sarastro Gmbh (Hrsg )

Broschur

24.90 €

Briefe an Anna Lukas Senn

Broschur

10.90 €

Möglichkeiten der Vertragsgestaltung durch Einheitshaftungsvereinbarungen im multimodalen Transport Niels Witt

Broschur

36.99 €

Itinéraires gourmands de deux pigeons voyageurs Bertrand François

Broschur

51.19 €

The fabrication of Si- and compound semiconductor-based devices involves a number of steps ranging from material growth to pattern definition by lithography, and ultimately, pattern transfer by etching/deposition. The key to device manufacturing, however, is reproducibility, low cost and high yield. Diagnostic techniques allow correlation between processing and actual device performance to be established. Researchers from universities, industry and government come together in this book to examine the advances in diagnostic techniques that provide critical information on structural, optical and electrical properties of semiconductor devices, as well as monitoring techniques for equipment/processes for control and feedback. The overriding goal is for rapid, accurate materials characterization, both in situ and ex situ. Topics include: in situ diagnostics; proximal probe microscopies; optical probes of devices and device properties; spectroscopic ellipsometry/structural diagnostics; and material analysis - X-ray techniques, strain measurements and passivation.

Schauspielerin & Polyglotte

EWA KASP für

Video abspielen

Libristo bietet die größte Auswahl an fremdsprachiger Literatur an. Deshalb kaufe ich meine Bücher hier ein.

Informationen zum Buch

Vollständiger Name Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Processing: Volume 406

Autor Francis G. Celii, Orest J. Glembocki, Stella W. Pang

Sprache

Englisch

Einband Buch - Hardcover

Datum der Veröffentlichung 1996

Anzahl der Seiten 585

EAN 9781558993099

ISBN 1558993096

Libristo-Code 02060067

Verlag Materials Research Society

Gewicht 977

Abmessungen 160 x 234 x 36

Kategorie

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Elektronik, Nachrichtentechnik > Elektronik > Elektronische Geräte und Materialien

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Materialwissenschaft

Verschenken Sie dieses Buch noch heute

Es ist ganz einfach

1 Legen Sie das Buch in Ihren Warenkorb und wählen Sie den Versand als Geschenk 2 Wir schicken Ihnen umgehend einen Gutschein 3 Das Buch wird an die Adresse des beschenkten Empfängers geliefert