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Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces

Name: Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces
Brand: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
SKU: 02176395
Price: 53.79 EUR
Availability: InStock
Author: Helmut Dosch
ISBN: 9783662149751

Evanescent X-Ray and Neutron Scattering

Helmut Dosch

Sprache

Englisch

Buch Broschur

Libristo-Code: 02176395

Verlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, März 2013

This book deals with the application of grazing angle x-ray§and neutron scattering to the study of s... Vollständige Beschreibung

Libristo-Code: 02176395

132 b

53.79 € inkl. MwSt.

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This book deals with the application of grazing angle x-ray§and neutron scattering to the study of surface-induced§critical phenomena. With the advent of even more advanced§synchrotron radiation sources and new sophisticated§instrumentation this novel technique is expected to§experience a boom.§The comprehensive and detailed presentation of theoretical§and experimental aspects of the scattering of evanascent§x-ray and neutron waves inside a solid makes this book§particularly useful for tutorial courses.§Particular emphasis is put on the use of this technique to§extract microscopic information (correlation functions) from§the real structure of a surface, from buried and magnetic§interfaces and from surface roughness.

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Informationen zum Buch

Vollständiger Name Critical Phenomena at Surfaces and Interfaces

Autor Helmut Dosch

Sprache

Englisch

Einband Buch - Broschur

Datum der Veröffentlichung 2013

Anzahl der Seiten 149

EAN 9783662149751

ISBN 3662149753

Libristo-Code 02176395

Verlag Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Gewicht 254

Abmessungen 155 x 235 x 9

Kategorie

Mathematik und Naturwissenschaften > Physik > Materialwissenschaft / Aggregatzustände > Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)

Mathematik und Naturwissenschaften > Chemie > Physikalische Chemie > Oberflächenchemie und Adsorption

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Maschinenbau und Werkstoffe > Materialwissenschaft > Werkstoffprüfung

Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse > Andere Technologien und verwandte Wissenschaften > Angewandte Optik > Lasertechnik und Holographie

Mathematik und Naturwissenschaften > Physik > Atom- und Molekularphysik

Mathematik und Naturwissenschaften > Chemie > Kristallografie

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